020-22306780
晶振阻抗测试仪GDS-80H
  • 晶振阻抗测试仪GDS-80H
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晶振阻抗测试仪GDS-80H

晶振阻抗测试仪GDS-80M是一款专为高频无源晶振(60MHz-100MHz)研发的高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准,测量频率:60MHz-100MHz。晶振频率测试仪GDS-80M采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、负载电容等参数测量,负载电容在1-50PF范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。

  • 产品详情
  • 一、产品简介

    晶振阻抗测试仪GDS-80M是一款专为高频无源晶振(60MHz-100MHz)研发的高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准,测量频率:60MHz-100MHz晶振频率测试仪GDS-80M采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、负载电容等参数测量,负载电容在1-50PF范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。

    二、主要技术指标

    1. 中心频率范围: 60MHz-100MHz

    2. 负载谐振频率FL测试范围:±400ppm

    3. 负载谐振频率FL测试精度:±5ppm

    4. 负载电容CL可调范围:1-50PF 任意设定

    5. 负载电容CL测试范围:1-50PF

    6. 负载电容CL测试精度:±1PF

    8. 等效电阻Rr测试范围: 1Ω-1000Ω

    9. 等效电阻Rr测试精度:±10%±2Ω

    10. 时基频率:26M

    11. 晶振稳定性:5×10-7 /日

    12. 体积:120mm×230mm×260mm

    13. 功率:20W

    14. 保修期:一年


    三、特点

    1. 阻抗值、ppm同时显示

    2. 无需人工校对,直接测试多种参数

    3. 最新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备

    4. LCD显示

    5. 触摸屏交互

    四、仪器配置

    1. GDS-80H晶振阻抗测试仪

    2. 电源线 1

    3. 插件式100Ω PI网络测试座及校准件

    4. 贴片式100Ω PI网络测试座及校准件(选件)

    5. BNC-SMA 50欧射频连接线*2

    6. 贴片适配槽,如1610,1612,2520,3215,3225,5032,7050等(选件)



    GDS-80L

    GDS-80M

    GDS-80H

    GDS-80

    GDS-80P

    GDS-80S

    频率范围

    10KHz-200KHz

    1MHz-60MHz

    60MHz-100MHz

    10KHz-100MHz

    10KHz-100MHz

    10KHz-200MHz

    测试参数

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l L1

    l C1

    l Q

    l C0

    l TS

    l PASS/FAIL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l L1

    l C1

    l Q

    l C0

    l TS

    l PASS/FAIL

    等效电阻测试范围

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    1Ω-1000Ω

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    负载电容测试范围

    1-50PF

    1-50PF

    1-50PF

    1-200PF

    1-200PF

    1-200PF

    标配

    插件式1000KΩ表晶测试座

    插件式100Ω PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    选配

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    是否可检陶瓷晶振

    是否支持串口通信


    一、产品简介

    晶振阻抗测试仪GDS-80M是一款专为高频无源晶振(60MHz-100MHz)研发的高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准,测量频率:60MHz-100MHz晶振频率测试仪GDS-80M采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、负载电容等参数测量,负载电容在1-50PF范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。

    二、主要技术指标

    1. 中心频率范围: 60MHz-100MHz

    2. 负载谐振频率FL测试范围:±400ppm

    3. 负载谐振频率FL测试精度:±5ppm

    4. 负载电容CL可调范围:1-50PF 任意设定

    5. 负载电容CL测试范围:1-50PF

    6. 负载电容CL测试精度:±1PF

    8. 等效电阻Rr测试范围: 1Ω-1000Ω

    9. 等效电阻Rr测试精度:±10%±2Ω

    10. 时基频率:26M

    11. 晶振稳定性:5×10-7 /日

    12. 体积:120mm×230mm×260mm

    13. 功率:20W

    14. 保修期:一年


    三、特点

    1. 阻抗值、ppm同时显示

    2. 无需人工校对,直接测试多种参数

    3. 最新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备

    4. LCD显示

    5. 触摸屏交互

    四、仪器配置

    1. GDS-80H晶振阻抗测试仪

    2. 电源线 1

    3. 插件式100Ω PI网络测试座及校准件

    4. 贴片式100Ω PI网络测试座及校准件(选件)

    5. BNC-SMA 50欧射频连接线*2

    6. 贴片适配槽,如1610,1612,2520,3215,3225,5032,7050等(选件)



    GDS-80L

    GDS-80M

    GDS-80H

    GDS-80

    GDS-80P

    GDS-80S

    频率范围

    10KHz-200KHz

    1MHz-60MHz

    60MHz-100MHz

    10KHz-100MHz

    10KHz-100MHz

    10KHz-200MHz

    测试参数

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l L1

    l C1

    l Q

    l C0

    l TS

    l PASS/FAIL

    l Fr

    l Rr

    l FL

    l RL

    l CL

    l L1

    l C1

    l Q

    l C0

    l TS

    l PASS/FAIL

    等效电阻测试范围

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    1Ω-1000Ω

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    1Ω-1000Ω

    10K-300K

    负载电容测试范围

    1-50PF

    1-50PF

    1-50PF

    1-200PF

    1-200PF

    1-200PF

    标配

    插件式1000KΩ表晶测试座

    插件式100Ω PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    插件式100Ω欧PI网络

    选配

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    l 贴片式100Ω PI网络

    l 插件式1000KΩ表晶测试座

    l 贴片式1000KΩ表晶测试座

    l 插件式陶瓷晶振测试座

    l 贴片适配槽

    l 校准件

    是否可检陶瓷晶振

    是否支持串口通信