晶振测试仪GDS-80L

一、产品简介

晶振测试仪GDS-80L是高性价比的晶振测试系统，采用网络分析技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围10KHz-200KHz。

晶振测试仪GDS-80L采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fr、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rr、负载谐振电阻RL、负载电容CL等参数测量功能，负载电容在1-50P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

依据标准：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》 ；

二、主要技术指标

1. 中心频率范围： 10KHz -200KHz

2. 负载谐振频率FL范围测量：±400ppm

3. 负载谐振频率FL测量精度：±5ppm

4. 负载电容CL调节范围：1-50PF 任意设定

5. 负载电容CL测试范围：1-50PF

6. 负载电容CL测试精度：±1PF

7. 等效电阻Rr测试范围： 10KΩ-300KΩ

8. 等效电阻Rr测试精度：±10%±2KΩ

9. 时基频率：26M

10. 晶振稳定性：5×10-7 /日

11. 体积：120mm×230mm×260mm

12. 功率：20W

13. 保修期：一年

14. 重量：4KG

三、特点

1. 串联谐振频率Fr，等效电阻Rr，负载谐振频率FL，负载等效电阻RL，负载电容CL同时显示

2. 无需人工校对，直接测试多种参数

3. 使用网络分析技术测试，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备

4. LCD显示

5. 触摸屏交互

四、仪器配置

1. GDS-80L晶振测试仪

2. 电源线 1根

3. 插件式1000KΩ PI网络测试座及校准件

4. 贴片式1000KΩ PI网络测试座及校准件（选件）

5. BNC-SMA 50欧射频连接线*2

6. BNC电源连接线*1

7. 贴片适配槽，如1610，1612，2520，3215，3225，5032，7050等（选件）